物相定性定量分析、點陣參數精確測定、微晶晶粒大小及微觀畸變分析、非晶材料及結晶度分析、薄膜分析、納米材料分析、晶體
技術支持
Technical support
設備名稱：X射線衍射儀 日本理學
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冷場發射掃描電子顯微鏡（SEM）
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環境氣氛球差校正場發射透射電子顯微鏡:微觀
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冷場發射掃描電子顯微鏡（SEM）
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